В NormaCS добавлены новые стандарты по системам оценки качества в электронике.

ГОСТ Р МЭК 61193-2-2015. Системы оценки качества. Часть 2. Выбор и использование планов выборочного контроля электронных компонентов и блоков.

Статус: Документ вводится с 01.08.2016. Сведения о регистрации 1741-ст от 10.11.2015 (официальный сайт Росстандарта)

Утвержден: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, 10.11.2015

Область применения: Стандарт устанавливает методы проверки электронных компонентов, блоков, а также электронных модулей (далее - изделия), которые используются в электронном и электрическом оборудовании. 
Стандарт определяет планы выборочного контроля для проверки по качественным признакам, предполагая, что приемочное число равно нулю (Ас=0) и включает критерий выборки образцов и процедур. Приведенные в настоящем стандарте планы выборочного контроля с нулевым приемочным числом применяются для проверки продукции, которая произведена при соответствующем контроле процесса с целью получения нулевого уровня дефектов перед выборочным контролем. Кроме того, настоящий стандарт описывает метод расчета ожидаемого значения статистически контролируемого уровня качества (SVQL) при доверительном уровне 60 %. Данный метод может использоваться для проверки результативности контроля процесса поставщиком.

ГОСТ Р МЭК 61193-3-2015. Системы оценки качества. Часть 3. Выбор и использование планов выборочного контроля печатных плат и слоистого материала как конечной продукции, а также во время технологического процесса.

Статус: Документ вводится с 01.08.2016. Сведения о регистрации 1742-ст от 10.11.2015 (официальный сайт Росстандарта)

Утвержден: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, 10.11.2015

Область применения: В стандарте представлены планы выборки для контроля по свойствам (атрибутам), включая критерии отбора планов выборки и процедуры реализации для печатных плат и изготовленного изделия, а также проверок в ходе процесса изготовления. Представленные в настоящем документе принципы позволяют использовать различные планы выборки, которые могут быть применены в отношении отдельного свойства или набора свойств в соответствии с классификацией требований по форме и функциональности.