В NormaCS опубликован ГОСТ Р 57394-2017. Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность.
Статус: Документ вводится с 01.01.2018. Сведения о регистрации 74-ст от 27.02.2017 (официальный сайт Росстандарта)
Утвержден: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, 27.02.2017
Область применения: Стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов, предусматривающие форсирование режимов эксплуатации.
Комментарии